Кинетический фазовый контраст в атомно-силовой микроскопии

Щеглов Дмитрий Владимирович
1. Институт физики полупроводников им. А. В. Ржанова СО РАН Новосибирск, Россия
2. Новосибирский государственный университет Новосибирск, Россия
sheglov@thermo.isp.nsc.ru
Латышев Александр Васильевич
1. Новосибирский государственный университет Новосибирск, Россия
2. Институт физики полупроводников им. А. В. Ржанова СО РАН Новосибирск, Россия
latyshev@isp.nsc.ru
Попков В. Ю.
1. Институт физики полупроводников им. А. В. Ржанова СО РАН Новосибирск, Россия
2. Новосибирский государственный университет Новосибирск, Россия
Материал поступил в редколлегию 24.12.2007
Изучен механизм формирования фазового контраста, инициированного сбоем колебаний осциллирующего зонда атомно-силового микроскопа при различных условиях его взаимодействия с поверхностью. Обоснован кинетический механизм формирования фазового контраста, проявляющийся при увеличении скорости передвижения зонда АСМ по поверхности подложки вследствие увеличения силы трения.

Ключевые слова:
атомно-силовая микроскопия, фазовый контраст, поверхность, трение
Источник финансирования:
Работа выполнена при частичной финансовой поддержке РФФИ (проект № 07-02-1003). Авторы выражают благодарность С. С. Косолобову за предоставленные тест-объекты
УДК 53.083.98

Кинетический фазовый контраст в атомно-силовой микроскопии
Выходные данные: Щеглов Д. В., Латышев А. В., Попков В. Ю. Кинетический фазовый контраст в атомно-силовой микроскопии. Журнал Вестник НГУ. Cерия Физика. 2008. Том 3, № 1. C. 91–99. DOI: 10.54362/1818-7919-2008-3-1-91-99