Кинетика реконструкционного перехода (2 x 4) --> (3 x 1(6)) на поверхности арсенида галлия

Васев Андрей Васильевич
1. Институт физики полупроводников им. А. В. Ржанова СО РАН Новосибирск, Россия
vasev@isp.nsc.ru
Путято Михаил Альбертович
1. Институт физики полупроводников им. А. В. Ржанова СО РАН Новосибирск, Россия
Семягин Борис Рэмович
1. Институт физики полупроводников им. А. В. Ржанова СО РАН Новосибирск, Россия
Материал поступил в редколлегию 10.07.2008
Методом дифракции быстрых электронов на отражение (ДБЭО) изучались особенности сверхструктурного перехода (2 x 4) -->3 x 1(6)) на поверхности GaAs(100) в условиях, вызванных резким изменением потока мышьяка. Получены зависимости интенсивности зеркального рефлекса картины ДБЭО от времени в процессе данного перехода. Результаты измерений проанализированы в рамках кинетической модели JMAK (Johnson – Melh – Avrami – Kolmogorov). Установлено, что процесс структурной перестройки является двухэтапным и осуществляется через промежуточное состояние разупорядоченния, при этом на поверхности сосуществуют домены с разными реконструкциями. Определены активационные энергии и скорости фазовых переходов для каждого из этапов. Предложена методика прецизионного определения температуры поверхности GaAs(001), использующая особенности кинетики реконструкционного перехода (2 x 4) -->3 x 1(6)).

Ключевые слова:
GaAs, поверхность, ДБЭО, реконструкционное состояние
УДК 621.315.592:548.736.324;538.971:548.51;537.533.73

Кинетика реконструкционного перехода (2 x 4) --> (3 x 1(6)) на поверхности арсенида галлия
Выходные данные: Васев А. В., Путято М. А., Семягин Б. Р., Преображенский В. В. Кинетика реконструкционного перехода (2 x 4) --> (3 x 1(6)) на поверхности арсенида галлия. Журнал Вестник НГУ. Cерия Физика. 2008. Том 3, № 3. C. 88–94. DOI: 10.54362/1818-7919-2008-3-3-88-94