Метод моделирования дифракционных картин для наноразмерных кристаллических систем
Материал поступил в редколлегию 30.07.2008
Разработаны оригинальный алгоритм и вычислительная программа для моделирования рентгеновских дифракционных картин от ансамбля наноразмерных кристаллических частиц. Проведены тестовые расчеты, оценены погрешности определения положений, интегральных интенсивностей и полуширин дифракционных пиков.Ключевые слова:
рентгенография, нанокристаллы, структурный анализ
Источник финансирования:
Работа выполнена при финансовой поддержке РФФИ (проект № 08-03-00964а)
УДК 539.26; 548.73
Метод моделирования дифракционных картин для наноразмерных кристаллических систем Выходные данные: Яценко Д. А., Цыбуля С. В. Метод моделирования дифракционных картин для наноразмерных кристаллических систем. Журнал Вестник НГУ. Cерия Физика. 2008. Том 3, № 4. C. 47–51. DOI: 10.54362/1818-7919-2008-3-4-47-51