Кристаллизация кластеров аморфного кремния в пленках SiNx на стекле с применением наносекундных импульсных обработок излучением KrF-лазера

Корчагина Таисия Тарасовна
1. Институт физики полупроводников им. А. В. Ржанова СО РАН Новосибирск, Россия
Taisiya999@mail.ru
Володин Владимир Алексеевич
1. Институт физики полупроводников им. А. В. Ржанова СО РАН Новосибирск, Россия
2. Новосибирский государственный университет Новосибирск, Россия
volodin@isp.nsc.ru
Попов Александр Афанасьевич
1. Ярославский филиал физико-технологического института РАН Ярославль, Россия
Материал поступил в редколлегию 15.01.2009
Интерес к полупроводниковым нанокристаллам в диэлектрической матрице вызван проявлением в них квантово-размерного эффекта уже при комнатной температуре. Был предложен и реализован способ кристаллизации кластеров аморфного кремния, содержащихся в пленках SiNx (0,6 < x < 1,3), осажденных на стеклянных подложках. Способ основан на применении наносекундных импульсных обработок излучением KrF-лазера. Большая энергия кванта излучения (5 электрон-вольт) приводит к эффективному поглощению лазерного излучения в пленках SiNx, вызывая импульсный нагрев и кристаллизацию аморфных кластеров кремния. Анализ фазового состава кластеров проводился с применением спектроскопии комбинационного рассеяния света.

Ключевые слова:
лазерная кристаллизация, нанокристаллы, нанокластеры, кремний, нитрид кремния
УДК 537.9, 536.4

Кристаллизация кластеров аморфного кремния в пленках SiNx на стекле с применением наносекундных импульсных обработок излучением KrF-лазера
Выходные данные: Корчагина Т. Т., Володин В. А., Попов А. А., Чичков Б. Н. Кристаллизация кластеров аморфного кремния в пленках SiNx на стекле с применением наносекундных импульсных обработок излучением KrF-лазера. Журнал Вестник НГУ. Cерия Физика. 2009. Том 4, № 2. C. 47–52. DOI: 10.54362/1818-7919-2009-4-2-47-52