Терагерцевый когерентный сканирующий зондовый микроскоп

Трухин Валерий Николаевич
1. Физико-технический институт имени А.Ф.Иоффе Санкт-Петербург, Россия
valera.truchin@mail.ioffe.ru
Зиновьев Николай Николаевич
1. Физико-технический институт имени А.Ф.Иоффе Санкт-Петербург, Россия
Андрианов Александр Васильевич
1. Физико-технический институт имени А.Ф.Иоффе Санкт-Петербург, Россия
Материал поступил в редколлегию 08.09.2010
Мы представляем терагерцевый сканирующий зондовый микроскоп, объединяющий ТГц когерентный спектрометр и сканирующий зондовый микроскоп. Он детектирует пряморассеянное излучение и использует демодуляцию гармонического сигнала для выделения сигнала ближнепольного вклада в рассеяние ТГц электромагнитных волн.

Ключевые слова:
терагерцевый, ближнепольный, микроскопия, сканирующий зондовый микроскоп
УДК 535-14

Терагерцевый когерентный сканирующий зондовый микроскоп
Выходные данные: Трухин В. Н., Зиновьев Н. Н., Андрианов А. В. Самойлов, Л. Л., Голубок А. О., Фельштын М. Л., Сапожников И. Д., Быков В. А., Трухин А. В. Терагерцевый когерентный сканирующий зондовый микроскоп. Журнал Вестник НГУ. Cерия Физика. 2010. Том 5, № 4. C. 151–153. DOI: 10.54362/1818-7919-2010-5-4-151-153