Терагерцовая дисперсионная спектроскопия для исследования тонких пленок с помощью интерференции поверхностного плазмона с объемной волной

Разработан новый метод терагерцовой дисперсионной спектроскопии тонких пленок, использующий поверхностные плазмоны. Метод основывается на сильной зависимости комплексного показателя преломления κ поверхностного плазмона от оптических констант переходного слоя и использует интерференцию в параллельных пучках объемной и поверхностной волн. Метод является очень точным и позволяет определять обе части κ за одно измерение. Устройства, использующие данный метод, могут быть статическими и динамическими, причем последние требуют времени измерения, по крайней мере, равное одному импульсу повторения.

Ключевые слова:
поверхностные плазмоны, терагерцовое излучение, дальнее инфракрасный диапазон, дисперсионная спектроскопия, тонкие пленки, интерференция, лазер на свободных электронах
Источник финансирования:
Работа выполнена в рамках госконтрактов № П1132 ФЦП «Научные и научно-педагогические кадры инновационной России» и 02.740.11.0556, а также интеграционного гранта СО РАН № 89
УДК 535.15/535.321

Терагерцовая дисперсионная спектроскопия для исследования тонких пленок с помощью интерференции поверхностного плазмона с объемной волной