Развитие метода Дебая – Шеррера для исследования поликристаллических образцов

Предложена экспресс-методика уточнения параметров элементарной ячейки поликристаллических образцов с большим коэффициентом поглощения (в том числе массивных). В основу положена схема Дебая – Шеррера, реализованная на дифрактометре Bruker X8APEX (МоКα-излучение, положения плоского двухкоординатного CCDдетектора ±90°2θ, разрешение 1 024 ×1 024, время накопления 15 мин). Внешние эталоны – α-Al₂O₃ и Au. Изучен шлиф металлической таблетки Ir_0,85Re_0,15. Точность измерения параметра элементарной ячейки а_ГЦК = 3,8470(4) Å подтверждена результатами исследования образца в геометрии Брэгга – Брентано.

Ключевые слова:
метод Дебая – Шеррера, CCD-детектор, эталон, точность, параметры элементарной ячейки
Благодарности:
Авторы выражают благодарность канд. хим. наук Т. В. Дьячковой (ИХТТ УрО РАН, Екатеринбург) за получение образца и старшему научному сотруднику Г. Г. Гартвичу (НГУ, Научно-образовательный комплекс «Наносистемы и современные материалы», Новосибирск) за помощь при проведении экспериментов на ARL X’TRA. Работа выполнена при частичной поддержке Интеграционного проекта УрО РАН – СО РАН
УДК 548.734; 548.735.4; 548.735.6

Развитие метода Дебая – Шеррера для исследования поликристаллических образцов