Повышение точности определения параметров элементарной ячейки по дифракционным отражениям в малоугловой области

Основная цель работы – повышение точности измерений параметров элементарной ячейки по дифракционным данным в малоугловой области. В основу разработанного подхода положено создание лабораторного эталона, представляющего собой смесь порошков эталонного кремния SRM-640 и внутрикомплексного соединения меди (II) c 4-фенацетилиден-2,2,5,5-тетраметил-3-имидазолин-1-оксилом (CuL₂). Особенность приготовления такого эталона заключается в кристаллизации CuL₂ непосредственно на поверхности стандартной кюветы. При этом достигается практически идеальное ориентирование игольчатых тетрагональных кристаллов, и на дифрактограмме присутствуют только отражения типа hk0. Их положение позволяет проводить калибровку гониометра начиная с 4° 2θ.

Ключевые слова:
рентгеновская дифрактометрия поликристаллов, эталон, малые углы дифракции, точность
УДК 548.737

Повышение точности определения параметров элементарной ячейки по дифракционным отражениям в малоугловой области