Эффект электромиграции на поверхности кремния (001) в условиях гомоэпитаксии

Родякина Екатерина Евгеньевна
1. Институт физики полупроводников им. А. В. Ржанова СО РАН Новосибирск, Россия
2. Новосибирский государственный университет Новосибирск, Россия
rodyakina@isp.nsc.ru
Ситников Сергей Васильевич
1. Институт физики полупроводников им. А. В. Ржанова СО РАН Новосибирск, Россия
2. Новосибирский государственный университет Новосибирск, Россия
sitnikov@isp.nsc.ru
Латышев Александр Васильевич
1. Новосибирский государственный университет Новосибирск, Россия
2. Институт физики полупроводников им. А. В. Ржанова СО РАН Новосибирск, Россия
latyshev@isp.nsc.ru
Материал поступил в редколлегию 23.12.2017
Методами in situ сверхвысоковакуумной отражательной электронной микроскопии и ex situ атомно-силовой микроскопии исследованы начальные стадии объединения атомных ступеней в эшелоны в условиях электромиграции на поверхности кремния (001) при гомоэпитаксиальном росте и сублимации при температуре 1100 °С. Получены степенные временные зависимости среднего расстояния между эшелонами атомных ступеней и ширины террас между эшелонами. Установлено, что показатели степени при росте и сублимации различны и меньше величины 0,5, ранее экспериментально измеренной при длительном времени эшелонирования. Обнаружено, что при увеличении потока атомов на поверхность рост амплитуды флуктуации ступеней препятствуют объединению ступеней на начальных стадиях эшелонирования.

Ключевые слова:
поверхность кремния, электромиграция, эпитаксиальный рост, атомные ступени
Источник финансирования:
Работа выполнена при финансовой поддержке РФФИ (грант № 16-32-60199 «мол_а_дк»)
УДК 539.211.537.533

Эффект электромиграции на поверхности кремния (001) в условиях гомоэпитаксии

Выходные данные: Родякина Е. Е., Ситников С. В., Латышев А. В. Эффект электромиграции на поверхности кремния (001) в условиях гомоэпитаксии. Сибирский физический журнал. 2017. Том 12, № 4. C. 73–78. DOI: 10.25205/2541-9447-2017-12-4-73-78