Комплекс для наноисследований с использованием методов зондово-усиленного комбинационного рассеяния (TERS), сканирующей ближнеполевой оптической микроскопии (SNOM), спектроскопии Бриллюэновского рассеяния (BLS) и сканирующей зондовой микроскопии (SPM)
Материал поступил в редколлегию 14.08.2018
Мы сосредоточимся на нашем недавно разработанном Комплексе для наноисследований с использованием методов зондово-усиленного комбинационного рассеяния (TERS), сканирующей ближнеполевой оптической микроскопии (SNOM), спектроскопии Бриллюэновского рассеяния (BLS) и сканирующей зондовой микроскопии (SPM), разработанном в лаборатории нелинейной магнитодинамики (зав. проф., д-р С. О. Демокритов) в Институте прикладной физики университета г. Мюнстера. Комплекс, построенный на основе многофункционального СЗМ ИНТЕГРА Спектра С компании НТМДТ (SPM NTEGRA Spectra C) и 6-проходного ФабриПеро-тандем-интерферометра (JRS Scientific Instruments), предназначен для нанотехнологических исследований, в основном на наноструктурах для спинтроники.
Ключевые слова:
нанотехнологии, сканирующая зондовая микроскопия, рамановская спектроскопия, спиновая динамика
нанотехнологии, сканирующая зондовая микроскопия, рамановская спектроскопия, спиновая динамика
Комплекс для наноисследований с использованием методов зондово-усиленного комбинационного рассеяния (TERS), сканирующей ближнеполевой оптической микроскопии (SNOM), спектроскопии Бриллюэновского рассеяния (BLS) и сканирующей зондовой микроскопии (SPM) Выходные данные: Ерш И. Г., Демокритов С. О. Комплекс для наноисследований с использованием методов зондово-усиленного комбинационного рассеяния (TERS), сканирующей ближнеполевой оптической микроскопии (SNOM), спектроскопии Бриллюэновского рассеяния (BLS) и сканирующей зондовой микроскопии (SPM). Сибирский физический журнал. 2018. Том 13, № 4. C. 106–110. DOI: 10.25205/2541-9447-2018-13-4-106-110